Materialwissenschaftliche Elektronenmikroskopie

• 1: Mitarbeiter.
• 2: Veröffentlichungen.
• 3: Forschung.
• 4: Abgeschlossene Qualifizierungsarbeiten.
• 5: Lehre.
• 6: Service für die Universität.
• 7: Geräte.
  • 7.1: Elektronenmikroskope.
    • 7.1.1: TEM FEI Titan 80-300 Cs-korrigiert.
    • 7.1.2: TEM Philips CM 20.
    • 7.1.3: TEM Zeiss SALVE.
    • 7.1.4: SEM/FIB Zeiss NVision 40.
  • 7.2: Plasma Cleaner.
  • 7.3: Ionendünnungsanlagen.
  • 7.4: Sonstige Geräte.
• 8: Gäste.
• 9: Offene Stellen.
• 10: Kontakt.
• 11: Intern.