Abteilungsbericht 1998 der Abteilung Festkörperphysik der Universität Ulm
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Übersicht der Geräte
Bezeichnung |
Kombiniert mit |
Besonderheit |
Kap. |
| UHV-"Cluster" 3-Kammer-System mit Transferstäben und Schleuse |
· STM · TDS · LEED · UPS · Auger · Probenpräparation durch: Aufdampfen (Elektronenstrahl) RF-Magnetron Sputtern |
Eigenbau,
Proben- und Spitzenwechsel in situ, Austausch gegen AFM
in situ möglich. fokussierte Elektronenstoßheizung; lernbare Temperatur-Rampen. |
I.C.3 |
| Rauheitsmessung/Talystep Nomarsky-Mikroskop |
Poliermaschine unter Flow-Box im Reinraum (Klasse 100) für z.B. Saphir-Substrate. Poliermittel: Aerosil | Spezialisierung auf harte Einkristalle | I.A.1 |
| Au-Draht Bonder (Fa. Hibond) | II.B | ||
| Aufdampfapparaturen | Elektronenstrahlverdampfer und thermischer Verdampfer wahlweise | Mehrfachschichten möglich, max. 5 verschiedene Tiegel | |
| SQUID-Magnetometer (Fa. Quantum Design) |
Transport-Messungen im Magnetfeld | Bewegte Probe, maximales Feld: 5.5 T | I.B.1 I.D.3 |
| SQUID-Magnetometer | UHV | Eigenbau, ruhende bzw. ausklappbare Probe | I.D.3 |
| Transport-Meßplatz (Fa. Oxford) |
5T-Magnet mit Kryostat (1-300K) | Variable Probenorientierung zum Magnetfeld | I.D.3 |
| Kryostat für abschreckende Kondensation | in situ Widerstandsmessung | Drehrohrofen, Meßtemperatur 1K - 300 K | I.B.2 |
| Kryostat für abschreckende Kondensation | in situ Thermokraft-Messung | Dynamisches Meßverfahren | I.D.2 |
| RHEED (Fa. Siemens) | 60 keV, "stand alone"- Apparatur | I.A.1 | |
| Laue-Kamera | Bilderfassung mit eigenentwickelter Auswertesoftware | ||
| Röntgen-Diffraktometer
(Fa. Philips) mit Euler-Wiege |
JCPDS-Datei | I.D.2 | |
| UHV-Dual-Beam
Sputteranlage 2-Kammer-System mit Transferstab und Schleuse |
· Auger / REELS · Tiefenprofilierung · LEED |
Probe kann in kaltem (90 K) oder heißem (600°C) Zustand transferiert werden, Ionenbombardement des aufwachsenden Filmes. | I.A.2 I.B.1 |
| Rf-Sputteranlage
(Fa. Leybold) |
|||
| Laserablation mit Excimer laser (l = 193nm oder 248nm) | · HV Kammer (für Oxide) · UHV Kammer (für Metalle) |
Variation der Substrattemperaturen, in situ Widerstandsmessung, Heizung über CO2-Laser | I.E |
| Hall-Meßplatz | Für hochohmige Proben bei hohen Temperaturen < 1000°C | I.A.1 | |
| Spitzenmeßplatz für elektrische Leitfähigkeit | Für hochohmige Proben, Temperaturen < 400°C | I.A.1 | |
| STM an Luft | Eigenbau | II.A | |
| AFM an Luft | Eigenbau mit Lichtzeigerund 4 Quadrantendetektor | II.A | |
| Mikrowellen-CVD-Apparatur zur Herstellung von Diamantfilmen | · optisches Spektrometer zur Plasmaanalyse |
I.A.1 | |
| Mechano-chemische Super-Politur von Diamant | Konventionelle Vorpolitur | I.A.1 | |
| Implanter 350 kV | · AC-Suszeptibilität · UHV-ATR · UHV-RBS (700 keV He++) · Elektronenbeugung 80 keV |
Mehrere Strahlrohre. Erlauben Standardbestrahlung unter HV bei RT, sowie spezielle Experimente bei Temperaturen im Bereich 4.2 K - 900 K unter HV- oder UHV-Bedingungen. Breites Spektrum möglicher Projektile. | III |
| UHV-Aufdampfanlage (MBE) | RHEED während des Wachstums | im Reinraum |
|
| UHV-Sputteranlage (2 Kammer-System mit Schleuse) | DC- und RF-Sputterquellen | im Reinraum |
|
| UHV-STM
mit Schleuse (Fa. RHK) |
im Reinraum |
||
| Ionenätzer (Æ 3 cm Kanone) | für alle User des Reinraums zugänglich | ||
| Konfokale
Mikroskopie (Fa. Reichert) |
Hellfeld, Dunkelfeld, DLC, Realtime konfokal | für alle User des Reinraums zugänglich | II.B |
| REM JSM6300 (Fa. JEOL) | Elektronenstrahllithographie (Proxywriter 30kV, Fa. Raith) | für alle User des Reinraums zugänglich | II.B |
| Maskaligner (Fa. Süss) | für alle User des Reinraums zugänglich | II.B | |
| Röntgenanlage | LLL-Interferometer energiedispersive Streueinrichtung |
zeitaufgelöste Interferenzexperimente | |
| Mößbauer g -Diffraktometer I | Mößbauer
Hochgeschwindigkeits- antrieb (v £ 1000mm/sec) |
Energieanalyse der Streustrahlung. Energieüberträge 10 neV < dE < 48 m eV | IV |
| Mößbauer g -Diffraktometer II | Mößbauerantrieb
und Meßkanal für zeitaufgelöste Experimente |
Quantenschwebungen bei inelastischer Streuung | IV |