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Ionengestützte Deposition von h-BN/c-BN - Schichten zurück zur Übersicht
 

Bornitrid tritt, ebenso wie Kohlenstoff, hauptsächlich in zwei Modifikationen auf. Die geschichtete hexagonale Form (h-BN) ist dem Graphit sehr ähnlich, die Struktur des kubischen Bornitrids (c-BN) entspricht der des Diamant.

Abb. 1: Kristallstruktur von Diamant (a) und c-BN (b)

Kubisches Bornitrid ist nach Diamant das zweithärteste bekannte Material, allerdings ist es thermisch stabiler als dieser: während Diamant ab ca. 600°C an Luft 'verbrennt', ist c-BN bis über 1000°C hinaus stabil.
Hinzu kommt, das c-BN im Gegensatz zu Diamant keine Verbindung mit Eisen und Eisenähnlichen Stoffen eingeht und sich somit auch bei hohen Temperaturen zur Bearbeitung beispielsweise von Stählen eignet. C-BN ein Halbleiter mit großer Bandlücke, sowohl p- als auch n-Dotierung ist möglich und bekannt.
Die Herstellung von c-BN in kristalliner Form (Bulk) geschieht standardmäßig über Hochtemperatur-Hochdrucksynthese; hiermit erreicht man Kristallitgrößen von ca. 1mm. Kristallines c-BN ist kommerziell erhältlich und wird beispielsweise als Schleifmittel oder gesintert in Form von Schneid- und Schalwerkzeugen industriell eingesetzt.

Abb.2 : Kristallines c-BN (de Beers). Die Größe der Kristallite beträgt ca. 0.5 mm

Dünne Filme lassen sich bisher nur mit ionengestützten Verfahren abscheiden: der zum Erreichen der kubischen Struktur notwendige kompressive Streß im Film wird durch permanenten massiven Ionenbeschuß der aufwachsenden Schicht erreicht.
Aufgrund der Präparationsmethode wachsen die c-BN-Filme unter starkem kompressiven Streß auf, der mit steigender Schichtdicke zunimmt und schlußendlich zum Abplatzen der Filme führt:

Abb.3 : c-BN-Film auf Si, ca. 150 nm dick, abgeplatzt

Bei dem in dieser Abteilung verwendeten Verfahren handelt es sich um ein Standard-IBAD-Verfahren (Ion Beam Assisted Deposition). Elementares Bor wird durch Argon-Ionensputtern in die Gasphase überführt, das sich abscheidende Bor wird simultan aus einer zweiten Ionenquelle mit einem Argon/Stickstoff-Gemisch bestrahlt. Der Film kann in situ elektronenspektroskopisch charakterisiert werden, als Standardanalyseverfahren kommen Augerelektronenspektrokopie (AES) sowie Elektronenverlustspektroskopie (EELS) zum Einsatz. In Verbindung mit einer rasterbaren Ionenquelle werden Auger-Tiefenprofile aufgenommen, eine LEED-Optik ermöglicht in situ die Untersuchung der strukturellen Eigenschaften.

Die vorrangigen Ziele der hier durchgeführten Arbeiten bestehen in der Untersuchung der Nukleations- und Wachstumsprozesse dünner c-BN-Filme. Ein weiterer Schwerpunkt besteht in der Suche nach möglichen Wegen, den Streß einerseits schon während der Präparation wie auch postpräparativ beispielsweise durch mittelenergetische Ionenbestrahlung abzubauen.

Ansprechpartner: PD Dr. Hans-Gerd Boyen

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