Um elektrische Transporteigenschaften von Hoch-Tc-Supraleiter (HTSL) - Dünnschichten zu bestimmen, stehen der Abteilung mehrere Meßstände zur Verfügung.

So haben wir die Möglichkeit, in Magnetfeldern bis 5 T winkelabhängig elektronische Größen wie den Widerstand, den kritischen Strom, den Hall-Effekt sowie IU-Kennlinien an mikrostrukturierten HTSL-Filmen im Temperaturbereich 4K < T < 300 K zu bestimmen. Standardmäßig werden diese Messungen in dc-Technik durchgeführt, die Meßwertaufnahme erfolgt rechnergesteuert.

In einer speziell konzipierten Apparatur ist es außerdem möglich, die Thermokraft S(T) von dünnen Schichten im Temperaturbereich 4K < T < 300K zu messen. Hierzu wird ein dynamisches differentielles Meßverfahren angewandt, die Meßgenauigkeit liegt bei ±(0,01...0,05) µVolt/Kelvin je nach Meßtemperatur.

Ziel unserer Untersuchungen ist es u.a., den Einfluß mittelenergetischer Ionenbestrahlung (z.B. 4He+-Ionen mit der Energie E = 350 keV) auf die Transporteigenschaften von epitaktischen YBa₂Cu₃O₇-Delta-Filmen zu bestimmen. Hierbei sollen Korrelationen zwischen (bestrahlungsinduzierten) Defekten in der Kristallstruktur und deren Auswirkungen auf die elektrischen Transporteigenschaften hergestellt werden.

Ansprechpartner: Thorsten Theilig

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