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Synthese-Methoden

• Hot-Filament Gasphasenabscheidung HF-CVD (Fa. Cemecon)
• Reaktive Ionenätzen RIE (Fa. Aurion)
• Sputter-Anlage (Fa. Lesker)
• Melt-Spinner (Fa. Edmund Bühler)
• Acr-Melter (Fa. Edmund Bühler)
• Elektronenstrahlverdampfer (Fa. Balzers)
• Sputterkammer und Plasma-Ätzer (1×4" und 3×3", Fa. Hüttinger)
• CVR-System zur Herstellung von Leuchtstoffen
• Kügelmühlen (Fa. Spex, Fa. Fritsch, Fa. ZOZ Simolayer CM01 & CM20)
• Levitationsanalge zur Herstellung hochreiner Schmelzen (im Aufbau)

Präparations-Methoden

• Metallographie-Labor mit
  • Schleifmaschinen
  • Poliermaschinen
• Rohrofen (bis 1200 °C) Fa. Centrotherm
• Heizplatten mit Magnetrührer / Temperaturkontrolle
• Ultraschallbäder

Charakterisierung struktureller Eigenschaften

	Gerät	Firma	Modell	Bemerkung
REM	Hochauflösendes Raster-Elektronen-Mikroskop	Zeiss	Leo 1550FE	incl EDX / EBSD
XRD	Röntgendiffraktometer	Siemens	D 5005	incl. Kleinwinkelstreuung (SAXS)
XRD	Röntgendiffraktometer	Philips	X-PERT MPC	incl. Texturanalyse
XRD	Röntgendiffraktometer	PANalytical	X-PERT PRO	incl. Heizkammer und positions-sensitiven Sensor
AFM	Rasterkraftmikroskop	Digital Instruments	Nanoscope
FT-IR	Fourier-Transformations-Spektroskopie	Bruker Optics	Tensor27	incl. Hyperion-Mikroskop
SAM	akustisches Mikroskop	KSI
PL	Photolumineszenz	Jobin Yvon	Fluourolog-3	incl. Lebensdauermessung
	optisches Mikroskop	Olympus
	optisches Mikroskop	Leica

Charakterisierung magnetischer Eigenschaften

• Vibrationsmagnetometer VSM - Fa. Lakeshore 735
• Kerr-Mikroskop
• Moke-Magnetometer

Charakterisierung thermischer Eigenschaften

• Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Fa. Perkin Elmer
• Dilatometer
• Dünnschichtstressmessung - Fa. Tencor

Charakterisierung elektrischer Eigenschaften

• 4-Punkt-Messplatz

Charakterisierung rheologischer Eigenschaften

• Rheometer (Fa. Malvern)