Anwendung konvergenter Elektronenbeugung zur Dickenbestimmung von 2D-Proben
Johannes Biskupek und Koautoren veröffentlichten ein Paper in Micron zur Dickenbestimmung dünnster Proben mittels konvergenter Elektronenbeugung
Leitung
Dr. Johannes Biskupek
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Raum: N27 / 3.005
E-Mail: J. Biskupek
Sekretariat
Gesa Travnitschek
Tel.: +49 (0)731/50-22951
Raum: N27 / 2.007
E-Mail: G. Travnitschek
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