Applications of Transmission Electron Microscopy
| Time: | Tuesdays 8:00 - 10:00 h |
| Location: | N24/102 |
| Start: | 18.10.11 |
| Lecturer: | Prof. U. Kaiser with Dr. U. Golla-Schindler |
| Practical Course: | Dr. D. Geiger |
Goals of the practical course
- Justage, Aufnahme von Hellfeld- und Dunkelfeldabbildungen mit den dazugehörigen Beugungsbildern in verschiedenen Kristallprojektionen (detaillierte Beschreibung siehe pdf file: general operation)
- Aufnahme von Hochauflösungsabbildungen, Bestimmung der shärischen Aberration der Objektivlinse und des Defokus, Bildprocessing (genaue Beschreibung siehe pdf file: high resolution)
- Bestimmung des Burgersvektor und des Versetzungstyps mit Hilfe der weak-beam Dunkelfeldmethode (detaillierte Beschreibung siehe pdf file: dislocation)
- Aufnahme von konvergenten Elektronenbeugungsmustern in drei verschiedenen Moden (detaillierte Beschreibung siehe pdf file: convergent beam)
- Bestimmung der chemischen Zusammensetzung aus EDX Spektren (detaillierte Beschreibung siehe pdf file: EDX)