Einfrührung in die abbildende und analytische Elektronenmikroskopie
| Dozenten: | Prof. Ray F. Egerton, Prof. H. Rose, Prof. U. Kaiser |
Diese Spezialvorlesung richtet sich an interessierte Masterstudierende. Sie beinhaltet die Besonderheit, dass diese zusammen mit zwei renommierten Senior-Gastprofessoren angeboten wird.
1. Teil: Prof. Ray Egerton: Grundlagen der analytischen Elektronenmikroskopie (in englisch)
| 16.10.2012 | 16:30 - 18:00 Uhr | N25/2103 | Past and future development of the electron microscope |
| 17.10.2012 | 16:30 - 18:00 Uhr | H 8 | Basics of low-loss EELS |
| 19.10.2012 | 12:00 - 13:30 Uhr | H 8 | Basics of core-loss EELS |
| 23.10.2012 | 16:30 - 18:00 Uhr | N27/2.033 | Ionization damage in the TEM |
| 24.10.2012 | 16:30 - 18:00 Uhr | H 7 | Knock-on damage and atom motion |
| 25.10.2012 | 16:30 - 18:00 Uhr | N27/2.033 | Recent NINT research (spatially-resolved EELS, momentum-dependent EELS, hole-free phase plate) |
2. Teil: Prof. Harald Rose: Bildentstehung im Elektronenmikroskop
| 22.11.2012 | 11:00 - 13:30 Uhr | O23/2622 (gegenüber großer Medizinhörsaal) |
| 06.12.2012 | 11:00 - 13:30 Uhr | O23/2622 |
| 20.12.2012 | 11:00 - 13:30 Uhr | O23/2622 |
3. Teil: Prof. Ute Kaiser: Grundlagen der Elektronenbeugung
| 17.01.2012 | 11:00 - 13:30 Uhr | O23/2622 |
| 01.02.2012 | 11:00 - 13:30 Uhr | N25-H9 |
Weitere Informationen
Vorlesung
Präsenzzeit: 2 SWS
3 ETCS-Punkte
Mündliche oder schriftliche Prüfung
Für Masterstudierende Physik und Wirtschaftsphysik anrechenbar im Wahlbereich Physik und im Wahlbereich Masterstudiengänge.