Lernziele

 

• Justage, Aufnahme von Hellfeld- und Dunkelfeldabbildungen mit den dazugehörigen Beugungsbildern in verschiedenen Kristallprojektionen (detaillierte Beschreibung siehe pdf file: general operation)
• Aufnahme von Hochauflösungsabbildungen, Bestimmung der shärischen Aberration der Objektivlinse und des Defokus, Bildprocessing (genaue Beschreibung siehe pdf file: high resolution)
• Bestimmung des Burgersvektor und des Versetzungstyps mit Hilfe der weak-beam Dunkelfeldmethode (detaillierte Beschreibung siehe pdf file: dislocation) 
• Aufnahme von konvergenten Elektronenbeugungsmustern in drei verschiedenen Moden (detaillierte Beschreibung siehe pdf file: convergent beam)
• Bestimmung der chemischen Zusammensetzung aus EDX Spektren (detaillierte Beschreibung siehe pdf file: EDX)