Materialwissenschaftliche Elektronenmikroskopie

Wahlpflichtfach Elektronenmikroskopie

Vorlesung 

 

Vorbesprechung
Mittwoch, 28.10.2009
14.00 Uhr   
N27/2008

Praktikum
Justage, Aufnahme von Hellfeld- und Dunkelfeldabbildungen mit den dazugehörigen Beugungsbildern in verschiedenen Kristallprojektionen
(detaillierte Beschreibung siehe pdf file: general operation) 


Aufnahme von Hochauflösungsabbildungen, Bestimmung der shärischen Aberration der Objektivlinse und des Defokus, Bildprocessing
(genaue Beschreibung siehe pdf file: high resolution)

 
Bestimmung des Burgersvektor und des Versetzungstyps mit Hilfe der weak-beam Dunkelfeldmethode.
(detaillierte Beschreibung siehe pdf file: dislocation) 


Aufnahme von konvergenten Elektronenbeugungsmustern in drei verschiedenen Moden 
(detaillierte Beschreibung siehe pdf file: convergent beam)


Bestimmung der chemischen Zusammensetzung aus EDX Spektren
(detaillierte Beschreibung siehe pdf file: EDX)